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---Procedencia:
Institución:Institut de Ciencia de Materials de Barcelona (ICMAB-CSIC)
Contacto correo-e:arbiol@icrea.cat
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PhD Scholarship / Beca Doctoral
* PhD Scholarship is offered (Beca Doctoral):
A 4 years PhD scholarship (2 years of Scholarship + 2 years of contract) to work in the following topic:
"Development of electron nanoscopy advanced tools for the characterization of complex oxide nanostructures".
Dead line for candidates submission: 15 th October 2010
Contact me for more information:
Prof. Jordi Arbiol
ICREA at ICMAB-CSIC
arbiol@icrea.cat
or visit:
http://www.icmab.cat/gaen/news/89-scholarship
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Información complementaria de la oferta:
Resumen del Proyecto de Tesis:
Actualmente los nuevos materiales ideados para futuras aplicaciones tecnológicas están siendo sintetizados en la nanoescala (capas ultra finas, nanopartículas, nanohilos o nanotubos funcionalizados). Una característica esencial de estos materiales nanoestructurados, es que sus propiedades (y por tanto sus funcionalidades) dependen críticamente de la estructura atómica y electrónica de las intercaras y superficies de sus constituyentes, difícilmente asequibles por medio de las técnicas de difracción convencionales. Esta característica impone necesariamente la utilización de técnicas de observación local de elevada resolución espacial, capaces de aportar simultáneamente información morfológica, estructural, química y electrónica.
Si bien es cierto que el auge de la Nanociencia ha planteado retos sin precedentes a las técnicas analíticas de caracterización local, no es menos cierto que en menos de una década, estos retos han encontrado respuestas espectaculares, procedentes en gran medida del cada vez más amplio campo de la Microscopia Electrónica de Transmisión, recientemente llamada en algunos ámbitos como Nanoscopia Electrónica de Transmisión. Una de las líneas de Investigación propuestas en el Plan Estratégico del ICMAB es: "Methodologies for Materials Science and Nanotechnology", y dentro de esta, se encuentra la sublínea "Scattering Methods and Nanoscale Materials Investigation". Es por este motivo que el proyecto de tesis propuesto se enmarcará en esta sublínea prioritaria del plan estratégico, aplicando nuevas metodologías relacionadas con las nanoscopías electrónicas, inéditas en nuestro país hasta el momento. Nuevas herramientas analíticas como la Microscopía de transmisión en modo rastreo (STEM) con corrección de aberraciones o la espectroscopía de pérdida energética de electrones en alta resolución con haces monocromados, nos van a permitir un análisis químico de alta calidad con resolución espacial inferior a 0.1 nm. También la microscopía electrónica de transmisión (TEM) corregida no permitirá llegar a resoluciones sub-angstrom permitiendo estudios y análisis de dislocaciones y estrés en las muestras. Todo esto se amenizará con la creación de modelos atómicos 3D de las nanoestructuras y su posterior simulación para corroborar los resultados experimentales obtenidos.
El trabajo de tesis se enmarcará dentro del proyecto CONSOLIDER Materiales avanzados y Nanotecnologías para dispositivos y sistemas eléctricos, electrónicos y magnetoeletrónicos innovadores (NANOSELECT)", coordinado desde nuestro departamento. El estudio se centrará en el análisis de los materiales nanoestructurados basados en óxidos metálicos y/o cerámicos sintetizados en el propio departamento donde se desarrollará la tesis doctoral ("Departamento de Materiales superconductores y nanoestructuración a gran escala") en el marco del proyecto NANOSELECT. Por este motivo, y para satisfacer las necesidades de dicho proyecto, se analizarán nanoestructuras producidas por deposición de soluciones químicas, nanoestructuras de óxidos complejos (CeO2, BZO, LSMO, FeCoO,…) obtenidas a través de procesos de autoensamblaje utilizando soluciones diluidas o empleando plantillas poliméricas. En dichas muestras y mediante el uso de las técnicas relacionadas con la nanoscopía electrónica, se estudiarán las estructuras cristalinas, las interfícies, las tensiones (strain) mediante programas que permitan mapearlas localmente en la muestra (GPA), los defectos y/o las posibles interdifusiones químicas que puedan ocurrir. Todo esto permitirá esclarecer los mecanismos de nucleación y crecimiento de las distintas nanoestructuras y el rol que desarrolla el substrato y los distintos parámetros de crecimiento. El estudio se realizará a distintas escalas, yendo de la microescala a escala atómica. La utilización de las técnicas relacionadas con la microscopía electrónica, como las citadas anteriormente, serán primordiales para la realización del presente proyecto de tesis.
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